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產品名稱:
X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀
產品型號:
EX-731
產品展商:
日本電測
會員價格:
0.00 元
關注指數:2080
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簡單介紹
供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀是一款專門用來測試各種元素厚度的一種**儀器。
供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀
X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀的詳細介紹
EX-731型熒光X-Ray元素膜厚儀是一款專門用來測試各種元素厚度的一種**儀器。采用多能譜分析器，使用256高頻分析器，光譜自動分析.*高可測量3層膜厚.
供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀X-Y-Z軸可移動式測量台參數
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測量台操作方式
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手動
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自動
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測量行程
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單位(mm)
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170 × 110
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300 × 280
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移動量
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X(mm)
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70
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80
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Y(mm)
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70
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60
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Z(mm)
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80（測定物高*大150）
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50
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測定物高（*大）
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80（150可選）
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50
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外形(mm)
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600(W)×465(D)×730(H)
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重量(kg)
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79
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85
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測量台載重(kg)
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3
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1
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電源
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AC200V±10V
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供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀技術參數
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X線源
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油浸式小型微焦點Ｘ線管
管電圧50kV
管電流可変
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照射方式
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上麵垂直照射方式
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検出器
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比例計數管
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準直孔
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5種類(自動切換式)
0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0φmm
(可選換如下準直孔)
：0.05×0.5,0.05φ
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樣品觀察
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CCD鏡頭
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測定対象
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原子番號22(Ti)～82(Pb)
原子番號21以下可應用吸收法測量
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濾波器
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(Co、Ni)自動切換
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厚度測定範圍
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原子番號22～24：0.2～約20μm
原子番號25～40：0.1～約30μm
原子番號41～51：0.2～約70μm
原子番號52～82：0.05～約10μm
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検量線
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検量線自動作成
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測量功能
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単層膜厚測定
2層膜厚測定
3層膜厚測定
合金膜厚成分比同時測定
無電解膜厚測定
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測量模式
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自動測量
X-Ray功率可選擇
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自動測量台功能
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測定位置指定(X-Y-Z)
同一點重複測量功能
原點補正功能
測定位置確認功能
自動校正
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數據処理機能
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統計量表示：平均、標準偏差、*大、*小、方差、Cp、Cpk
餅圖表示
柱狀圖表示
測定值立體圖表示
ｘ-R管理圖
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