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日本日置IM3570阻抗分析儀上市

日期:2024-08-09 16:30
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摘要:
日本日置IM3570阻抗分析儀上市
阻抗分析儀IM3570是實現了測量頻率4Hz~5MHz的日置*款**度·高速阻抗分析儀。根據客戶的用途,可以與原來本公司的LCR產品一樣選擇將測量值用數值顯示模式來顯示頻率/電平特性的測量圖表。
IM3570是類似本公司以往產品LCR測試儀3532-50,並較其功能更為強大的產品。*加強了頻率的掃描測量、高速測量、低ESR測量、DCR的連續測量和測量穩定性,是HIOKI*款能在掃頻測量時顯示圖表的產品。此外,這款產品的測試速度、操作性、價格都非常符合現今市場需求,*行業競爭性。
特點
關於測量精度,*是低阻抗的操作反複精度比起以往產品都提高了一位,所以比較適合測量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。
另外,測量時間*快為0.5ms(100kHz,FAST,顯示OFF時),所以能夠高速測量共振頻率、發聲零件、振動傳感器等,適合用於生產壓電元件的生產線。
*大的優點是,與以往產品相比可高速的切換測量條件後進行測量。因此,以往的裝備多台測試儀的係統現在用一台IM3570就能搞定。比如,測量線圈,DCR測量(電阻計)和1MHz的L-Q值測量(LCR)都可以用IM3570測量。
主要應用
壓電元件(發聲零件、濾波器)、高分子電容的生產線上的檢查中,另外頻率掃描測量也可用於電池材料評估等多種用途中。
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